MR磁敏感加权成像对弥漫性轴索损伤的诊

MR磁敏感加权成像对弥漫性轴索损伤的诊断

解放军第医院医学影像科

王海硕

脑外伤在现代社会生活中发生率越来越高，弥漫性轴索损伤(diffuseaxonalinjury,DAI)是脑外伤中较为常见的一类疾病，是由于突然的加速、减速或旋转的力量导致脑组织的剪切伤，如车祸、运动等引起的头颅撞击式脑损伤。DAI以脑深部神经轴索肿胀、断裂及并行小血管损伤为特征的脑损伤，是最严重的一种原发性闭合性脑损伤，具有多灶性、散在分布和病灶小等特点。

DAI创伤机制主要为在外力作用下，脑内各种组织由于密度的差别导致其运动速度及惯性不同，尤其是旋转性运动，产生瞬间剪应力，使不同密度的脑组织发生相对移位，造成轴索损伤和小血管断裂。轴索损伤的部位常是轴索走行中改变解剖方向的部位，一般为轴索绕过血管、走行中交叉或改变方向到达其靶核的部位，由于外力作用于头部时，这些部位所受牵张力最大。因此，DAI好发于不同组织之间以及脑白质纤维上下走行与剪切力方向垂直的部位，如脑白质（特别是灰、白质交界区）、胼胝体、内囊、脑干背外侧等。病理形态特征为大脑的多灶性挫裂伤、神经纤维断裂及轴索球形成。在大体标本上，可见皮髓质交界区、胼胝体和内囊、深部灰质和脑干斑点状出血灶，系穿支小血管中断所致。镜下主要是轴索的回缩，形成小球影。

DAI患者临床症状往往比较重，一般在损伤即刻就会出现意识丧失。既往DAI的诊断主要依靠CT与磁共振MR常规序列检查,但二者对DAI的检出率较低，存在较大的局限性，因为仅能显示较大出血病变及脑肿胀，而对于微小病灶的显示不敏感，更不能直接显示轴索本身的改变，故其致残率和致死率较高。近年来随着MR磁敏感加权成像(susceptibility-weightedimaging,SWI)的应用，使DAI的检出率明显提高。

（注：①T2WI序列，②T1WI序列，③FLAIR序列，④DWI序列，⑤SWI序列，⑥CT图像）

男性患者，70岁，头部外伤后意识障碍1小时，行头颅MRI平扫及CT扫描。MRI见双侧半卵圆中心见多发斑片状长T1、长T2异常信号，弥散加权成像(diffusionweightedimaging，DWI)示左侧顶叶片状高信号，右侧额叶斑点状低信号（红色箭头），SWI示右侧额叶见多发大小不等点斑状低信号（红色箭头），CT提示双侧半卵圆中心见多发斑片状低密度。影像意见：1、双侧半卵圆中心多发脑梗死（新旧病变混杂，左侧顶叶新发病变考虑与外伤相关）；2、SWI示右侧额叶多发点斑状低信号，考虑为DAI，SWI多发病灶检出率显著强于MR其余序列及CT。

磁敏感成像（SWI）是近年来发展起来的一种用于检查组织磁场属性的高分辨率3D梯度回波成像新技术，最大的优势是对出血灶及出血代谢产物的检出。由于DAI常呈小灶性广泛弥漫性出血，CT及常规MRI难以显示微小的出血灶，但对于SWI而言，血红蛋白的代谢产物大都是顺磁性物质，这些物质即使在较小浓度时也可以利用SWI技术检测出来，呈大小不等的圆形、点状、串珠状、斑片状或团状明显低信号。SWI不仅能清楚地显示出血部位、出血灶的数目及大小，同时还能显示深部脑血管结构，直接提示脑损伤的部位，为临床及时发现脑内微出血灶提供直观的影像资料。SWI所显示的圆形显著均匀低信号并非完全代表出血的范围，而是表示出血代谢产物的顺磁性效应范围，它明显大于血肿本身。

SWI序列为诊断脑弥漫性轴索损伤的重要MR检查序列，能提高弥漫性轴索损伤病灶的检出率，准确评价病变的严重程度及预后，是目前诊断弥漫性轴索损伤的最佳影像学方法。因此当临床疑诊弥漫性轴索损伤时，SWI序列应作为MRI检查的常规和首选序列。

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